මිනුම් ක්රමවල විවිධ වර්ගීකරණය
මිනුම් ක්රමය යනු දී ඇති මිනුම් මූලධර්මයක් මත පදනම්ව මිනුම් ප්රතිඵල ලබා ගැනීමයි, මිනුම් ක්රමය විවිධ කාණ්ඩවලට බෙදා ඇත, මෙන්න c කිහිපයක්අම්මාමිනුම් ක්රම පිළිබඳව.
සෘජු මිනුම් ක්රමය වර්නියර් කැලිපරය භාවිතයෙන් කොටසෙහි දිග මැනීම සහ මයික්රෝමීටරයෙන් පතුවළෙහි විෂ්කම්භය මැනීම වැනි මනින ලද අගය කෙලින්ම ලබා ගත හැකි ක්රමය වේ.
වක්ර මිනුම් ක්රමය ශ්රිත සම්බන්ධතාවයක් ඇති අනෙකුත් ප්රමාණ මැනීමෙන් මනින ලද අගය ලබා ගැනීමේ ක්රමයකි. උදාහරණයක් ලෙස, ඛණ්ඩාංක මිනුම් යන්ත්රය, දෘශ්ය මිනුම් යන්ත්රයසහ ලේසර් මිනුම් යන්ත්රය සියල්ලම වක්ර මිනුම් ක්රම වේ.
සම්බන්ධතා මිනුම් ක්රමය මිනුම් උපකරණ සංවේදකය කොටසෙහි මතුපිට ස්පර්ශ කරන මිනුම් ක්රමයකි. පොදු සම්බන්ධතා මිනුම් ක්රමවලට ඇතුළත් වන්නේ: වර්නියර් කැලිපරය, මයික්රොමීටරය, මිනුම් ස්ටයිලි සහ සන්ධි බාහු මිනුම් යන්ත්රය යනාදිය. වර්තමාන කාර්මික යෙදුම්වල සම්බන්ධතා මැනීම ඉතා සුලභ වේ. එය ඉහළ විශ්වසනීයත්වයක්, ඉහළ නිරවද්යතාවයක් සහ හොඳ පුනරාවර්තන හැකියාව මගින් සංලක්ෂිත වේ. කෙසේ වෙතත්, සම්බන්ධතා මැනීමේ අවාසිය නම්, මිනුම් ස්පර්ශ බලය මිනුම් උපකරණයට සහ කොටසෙහි මතුපිටට (මෘදු මතුපිට වැනි) විරූපණයට හේතු විය හැකි අතර එය මිනුම් අවිනිශ්චිතතාවයට බලපෑ හැකිය.
ස්පර්ශ නොවන මිනුම් යනු මිනුම් ක්රමයකි මිනුම් උපකරණ සංවේදකය කොටසෙහි මතුපිට ස්පර්ශ නොවන බව. පොදු ස්පර්ශ නොවන මිනුම් ක්රම අතරට දෘශ්ය මිනුම්, ලේසර් මිනුම්, මෙවලම් අන්වීක්ෂය යනාදිය ඇතුළත් වේ. ස්පර්ශ නොවන මිනුම්වල වාසි වන්නේ මිනුම් සංවේදකය මනින ලද මතුපිට සමඟ ස්පර්ශ නොවීමයි, මනින ලද මතුපිට කොටස් කිසිදු හානියක් සිදු නොකරනු ඇත, සංකීර්ණ වක්ර මතුපිට කොටස් සහ මෘදු මතුපිට මිනුම් සඳහා වඩාත් සුදුසුය. එහි අවාසිය නම් ස්පර්ශ මිනුම් නිරවද්යතාවය තරම් නිරවද්යතාවය ඉහළ නොවීමයි.
දෘෂ්ටි මිනුම් යන්ත්රය සාමාන්ය ස්පර්ශ නොවන මිනුම් සහ වක්ර මිනුමකි. දෘෂ්ය මිනුම් උපකරණය දෘඩාංග (CCD, අක්ෂි කොටස, වෛෂයික දත්ත රේඛාව, වීඩියෝ අත්පත් කර ගැනීමේ කාඩ්පත) භාවිතා කරමින් ද්විමාන වීඩියෝ මිනුම් උපකරණයට කේබලය හරහා පරිගණක දත්ත අත්පත් කර ගැනීමේ කාඩ්පතට රූපය ග්රහණය කර ගත හැකිය, රූපගත කිරීමෙන් පසු මෘදුකාංග පරිගණක තිරයක් මත සහ වේගවත් මිනුම්. දෘශ්ය මිනුම් උපකරණයට දෘශ්ය පාලකයේ විස්ථාපන අගය ඉක්මනින් කියවිය හැකි අතර අවකාශීය ජ්යාමිතිය මත පදනම් වූ මෘදුකාංග මොඩියුල ක්රියාකාරිත්වය හරහා අපේක්ෂිත ප්රතිඵලය ලබා ගත හැකිය. මිනුම් ප්රතිඵලයේ ඇති විය හැකි අපගමනය දෘශ්යමය වශයෙන් වෙන්කර හඳුනා ගැනීම සඳහා, රූපය පාලනය කිරීම සඳහා ක්රියාකරු විසින් භාවිතා කිරීම සඳහා ප්රස්ථාරය තිරය මත ජනනය කෙරේ.
CMM යනු ස්පර්ශ මිනුම් සහ වක්ර මිනුම් සඳහා සාමාන්ය උදාහරණයකි. ඛණ්ඩාංක තුනක මිනුම යනු දී ඇති මිනුම් අවකාශයක කොටස් මතුපිට ඛණ්ඩාංක තොරතුරු ලබා ගැනීමේ ක්රමයක් වන අතර, වස්තුවේ හැඩයේ තොරතුරු ඩිජිටල්කරණය කිරීම "නියැදීම" ලෙසද හැඳින්වේ. මෙම සාම්පල අගයන් ප්රමාණය, පිහිටීම සහ අනෙකුත් තොරතුරු වල නිශ්චිත ජ්යාමිතික ලක්ෂණ වෙනුවට විවික්ත අවකාශීය ලක්ෂ්ය ඛණ්ඩාංක තොරතුරු වේ. මිනුම් ක්රියා පටිපාටිය මිනුම් ලක්ෂ්ය මාලාවක් මගින් සකසනු ලබන අතර, අවශ්ය මිනුම් ප්රතිඵල ලබා ගැනීම සඳහා අනුරූප ජ්යාමිතික අයිගන් අගයන් උපුටා ගනු ලැබේ.
කිසියම් ප්රශ්නයක් හෝ උපදෙස් තිබේ නම් කරුණාකර අප හා සම්බන්ධ වන්න overseas0711@vip.163.com