Iba't ibang Klasipikasyon ng mga Paraan ng Pagsukat

Ang paraan ng pagsukat ay ang pagkuha ng mga resulta ng pagsukat batay sa isang ibinigay na prinsipyo ng pagsukat, ang paraan ng pagsukat ay nahahati sa iba't ibang kategorya, narito ang ilang mga cInasa mga pamamaraan ng pagsukat.

Ang direktang paraan ng pagsukat ay ang pamamaraan na direktang makakakuha ng nasukat na halaga, tulad ng pagsukat sa haba ng bahagi gamit ang vernier caliper at pagsukat sa diyametro ng baras gamit ang micrometer.

Hindi direktang paraan ng pagsukat ay isang paraan upang makuha ang nasukat na halaga sa pamamagitan ng pagsukat ng iba pang mga dami na may kaugnayan sa tungkulin. Halimbawa, makinang panukat ng koordinato, makinang panukat ng optikaat laser Makinang Pangsukat ay pawang mga hindi direktang pamamaraan ng pagsukat.

Paraan ng pagsukat ng contact Ang pagsukat ng contact ay isang paraan ng pagsukat kung saan ang sensor ng kagamitan sa pagsukat ay dumidikit sa ibabaw ng bahagi. Kabilang sa mga karaniwang paraan ng pagsukat ng contact ang: vernier caliper, micrometer, measuring stylus at joint arm measuring machine, atbp. Ang pagsukat ng contact ay karaniwan sa kasalukuyang mga aplikasyon sa industriya. Ito ay nailalarawan sa pamamagitan ng mataas na pagiging maaasahan, mataas na katumpakan at mahusay na pag-uulit. Gayunpaman, ang disbentaha ng pagsukat ng contact ay ang puwersa ng pagsukat ng contact ay maaaring magdulot ng deformation sa instrumento sa pagsukat at sa ibabaw ng bahagi (tulad ng malambot na ibabaw), na maaaring makaapekto sa kawalan ng katiyakan ng pagsukat.

Ang pagsukat na hindi nakadikit ay isang paraan ng pagsukat na ang sensor ng kagamitan sa pagsukat ay hindi dumadampi sa ibabaw ng bahagi. Ang mga karaniwang pamamaraan ng pagsukat na hindi nakadikit ay kinabibilangan ng optical measurement, laser measurement, tool microscopy, atbp. Ang mga bentahe ng pagsukat na hindi nakadikit ay ang sensor ng pagsukat ay hindi nakadikit sa ibabaw na sinusukat, ang mga bahaging susukatin ay hindi magdudulot ng anumang pinsala, mas angkop para sa mga kumplikadong kurbadong bahagi ng ibabaw at malambot na ibabaw. Ang disbentaha nito ay ang katumpakan na hindi kasingtaas ng katumpakan ng pagsukat na nakadikit.

Ang makinang panukat ng paningin ay isang tipikal na pagsukat na hindi nakadikit at hindi direktang pagsukat. Ang dalawang-dimensyonal na instrumento sa pagsukat ng video gamit ang hardware mismo (CCD, eyepiece, objective data line, video acquisition card) ay maaaring makuha ang imahe sa pamamagitan ng cable papunta sa computer data acquisition card, pagkatapos i-imaging ng Software sa screen ng computer, at mabilis na pagsukat. Mabilis na mababasa ng optical measuring instrument ang displacement value ng optical ruler at makukuha ang ninanais na resulta sa pamamagitan ng operasyon ng software module batay sa spatial geometry. Ang graph ay nabubuo sa screen na gagamitin ng operator upang kontrolin ang imahe, upang biswal na matukoy ang posibleng paglihis ng resulta ng pagsukat.

Ang CMM ay isang tipikal na halimbawa ng pagsukat gamit ang kontak at hindi direktang pagsukat. Ang pagsukat gamit ang tatlong koordinato ay isang paraan ng pagkuha ng impormasyon ng koordinato ng ibabaw ng bahagi sa isang partikular na espasyo ng pagsukat, at ang pag-digitize ng impormasyon ng hugis ng bagay ay tinatawag ding "sampling". Ang mga halaga ng sampling na ito ay hiwalay na impormasyon ng koordinato sa espasyo, sa halip na mga partikular na geometric na katangian ng laki, lokasyon, at iba pang impormasyon. Ang pamamaraan ng pagsukat ay pinoproseso ng isang serye ng mga punto ng pagsukat, at ang mga kaukulang geometric eigenvalue ay kinukuha upang makuha ang kinakailangang mga resulta ng pagsukat.

Mangyaring makipag-ugnayan sa amin kung mayroon kang anumang mga katanungan o payo sa overseas0711@vip.163.com