တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းများ၏ ကွဲပြားသော အမျိုးအစားခွဲခြားမှု
တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းသည် ပေးထားသောတိုင်းတာမှုမူအပေါ် အခြေခံ၍ တိုင်းတာခြင်းရလဒ်များကိုရယူရန်ဖြစ်ပြီး၊ တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းကို အမျိုးအစားအမျိုးမျိုးခွဲခြားထားသည်၊ ဤတွင် c အများအပြားရှိသည်မိခင်တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းများနှင့်ပတ်သက်။
တိုက်ရိုက်တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်း vernier caliper ကို အသုံးပြု၍ အစိတ်အပိုင်း၏အရှည်ကို တိုင်းတာခြင်းနှင့် မိုက်ခရိုမီတာဖြင့် shaft ၏အချင်းကို တိုင်းတာခြင်းကဲ့သို့သော တိုင်းတာထားသောတန်ဖိုးကို တိုက်ရိုက်ရယူနိုင်သော နည်းလမ်းဖြစ်သည်။
သွယ်ဝိုက်တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်း သည် လုပ်ဆောင်ချက်ဆက်နွယ်မှုရှိသော အခြားပမာဏများကို တိုင်းတာခြင်းဖြင့် တိုင်းတာထားသောတန်ဖိုးကို ရယူသည့် နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ သြဒီနိတ်တိုင်းတာစက်, အလင်းတန်းတိုင်းတာစက်နှင့် လေဆာ တိုင်းတာစက် အားလုံးသည် သွယ်ဝိုက်သော တိုင်းတာမှု နည်းလမ်းများ ဖြစ်သည်။
ထိတွေ့မှုတိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်း တိုင်းတာရေးကိရိယာ အာရုံခံကိရိယာသည် အစိတ်အပိုင်း၏ မျက်နှာပြင်ကို ထိတွေ့သည့် တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည်။ အသုံးများသော ထိတွေ့မှု တိုင်းတာနည်းလမ်းများတွင် vernier caliper၊ micrometer၊ တိုင်းတာသည့်စတိုင်လ်နှင့် joint arm တိုင်းတာသည့်စက် စသည်တို့ ပါဝင်သည်။ ထိတွေ့မှု တိုင်းတာခြင်းသည် လက်ရှိစက်မှုလုပ်ငန်းအသုံးချမှုများတွင် အလွန်အသုံးများသည်။ ၎င်းသည် မြင့်မားသော ယုံကြည်စိတ်ချရမှု၊ မြင့်မားသော တိကျမှုနှင့် ကောင်းမွန်သော ထပ်ခါတလဲလဲ လုပ်ဆောင်နိုင်မှုတို့ဖြင့် သွင်ပြင်လက္ခဏာရှိသည်။ သို့သော်၊ ထိတွေ့မှု တိုင်းတာခြင်း၏ အားနည်းချက်မှာ တိုင်းတာသည့် ထိတွေ့မှုအားသည် တိုင်းတာသည့်ကိရိယာနှင့် အစိတ်အပိုင်း၏ မျက်နှာပြင် (ဥပမာ ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင်ကဲ့သို့) ကို ပုံပျက်စေနိုင်ပြီး တိုင်းတာမှု၏ မသေချာမှုကို ထိခိုက်စေနိုင်သည်။
ထိတွေ့မှုမရှိသော တိုင်းတာခြင်းသည် တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်သည် တိုင်းတာရေးကိရိယာ အာရုံခံကိရိယာသည် အစိတ်အပိုင်း၏ မျက်နှာပြင်နှင့် မထိတွေ့ပါ။ အသုံးများသော ထိတွေ့မှုမရှိသော တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းများတွင် အလင်းတိုင်းတာခြင်း၊ လေဆာတိုင်းတာခြင်း၊ ကိရိယာ အဏုကြည့်မှန်ပြောင်း စသည်တို့ ပါဝင်သည်။ ထိတွေ့မှုမရှိသော တိုင်းတာမှု၏ အားသာချက်များမှာ တိုင်းတာသည့် အာရုံခံကိရိယာသည် တိုင်းတာနေသော မျက်နှာပြင်နှင့် ထိတွေ့မှုမရှိခြင်း၊ တိုင်းတာမည့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်သည် ပျက်စီးမှု မရှိခြင်း၊ ရှုပ်ထွေးသော ကွေးညွှတ်နေသော မျက်နှာပြင် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင် တိုင်းတာမှုများအတွက် ပိုမိုသင့်လျော်ပါသည်။ ၎င်း၏ အားနည်းချက်မှာ ထိတွေ့မှု တိုင်းတာမှု တိကျမှုကဲ့သို့ တိကျမှု မမြင့်မားခြင်း ဖြစ်သည်။
မြင်ကွင်းတိုင်းတာစက်သည် ပုံမှန်ထိတွေ့မှုမရှိသော တိုင်းတာမှုနှင့် သွယ်ဝိုက်တိုင်းတာမှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ ဟာ့ဒ်ဝဲကိုယ်တိုင် (CCD၊ မျက်မှန်၊ အရာဝတ္ထုဒေတာလိုင်း၊ ဗီဒီယိုရယူကတ်) ကို အသုံးပြု၍ နှစ်ဖက်မြင်ဗီဒီယိုတိုင်းတာသည့်ကိရိယာသည် ရုပ်ပုံကို ကေဘယ်လ်မှတစ်ဆင့် ကွန်ပျူတာဒေတာရယူကတ်သို့ ဖမ်းယူနိုင်ပြီး ရုပ်ပုံများကို မှတ်တမ်းတင်နိုင်သည်။ ဆော့ဖ်ဝဲ ကွန်ပျူတာဖန်သားပြင်ပေါ်တွင် လျင်မြန်စွာတိုင်းတာခြင်း။ အလင်းတိုင်းတာသည့်ကိရိယာသည် အလင်းပေတံ၏ ရွေ့လျားမှုတန်ဖိုးကို လျင်မြန်စွာဖတ်ရှုနိုင်ပြီး နေရာအလိုက်ဂျီသြမေတြီကိုအခြေခံသည့် ဆော့ဖ်ဝဲလ်မော်ဂျူးလုပ်ဆောင်ချက်မှတစ်ဆင့် လိုချင်သောရလဒ်ကို ရရှိနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ တိုင်းတာမှုရလဒ်၏ ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော သွေဖည်မှုကို မြင်သာစွာခွဲခြားသိရှိနိုင်ရန်အတွက် အော်ပရေတာမှ ပုံရိပ်ကိုထိန်းချုပ်ရန် အသုံးပြုရန်အတွက် မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ဂရပ်ကိုထုတ်ပေးသည်။
CMM သည် ထိတွေ့မှုတိုင်းတာခြင်းနှင့် သွယ်ဝိုက်တိုင်းတာခြင်း၏ ပုံမှန်ဥပမာတစ်ခုဖြစ်သည်။ သုံးဆင့်ကိုဩဒိနိတ်တိုင်းတာခြင်းသည် ပေးထားသောတိုင်းတာမှုနေရာရှိ အစိတ်အပိုင်းမျက်နှာပြင်၏ ကိုဩဒိနိတ်အချက်အလက်များကို ရယူသည့်နည်းလမ်းတစ်ခုဖြစ်ပြီး အရာဝတ္ထု၏ပုံသဏ္ဍာန်အချက်အလက်များကို ဒစ်ဂျစ်တယ်ပြောင်းလဲခြင်းကို "နမူနာယူခြင်း" လို့လည်းခေါ်ပါတယ်။ ဤနမူနာယူခြင်းတန်ဖိုးများသည် အရွယ်အစား၊ တည်နေရာနှင့် အခြားအချက်အလက်များ၏ သီးခြားဂျီဩမေတြီအင်္ဂါရပ်များအစား သီးခြားနေရာအလိုက်အမှတ်ကိုဩဒိနိတ်အချက်အလက်များဖြစ်သည်။ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်ကို တိုင်းတာသည့်အမှတ်များစွာဖြင့် လုပ်ဆောင်ပြီး လိုအပ်သောတိုင်းတာမှုရလဒ်များရရှိရန် သက်ဆိုင်ရာဂျီဩမေတြီ eigenvalues များကို ထုတ်ယူသည်။
မေးခွန်းများ သို့မဟုတ် အကြံဉာဏ်တစ်စုံတစ်ရာရှိပါက ကျွန်ုပ်တို့ထံ ဆက်သွယ်ပါ။ overseas0711@vip.163.com