CMM 검출 시스템 선정

일반적인 CMM 검사 시스템은 측정 프로브 퀼, 프로브 확장부, 그리고...의 네 부분으로 구성됩니다. 첨필조정 또는 확장, 그리고 스타일러스.

1. 프로브

프로브 유형에는 접촉식, 비접촉식, 수동식 및 자동식이 있습니다. 수동 접촉식 프로브는 사용자의 개입이 필요하므로 연결 지점에서 구성 요소 프로그램을 일시 중지해야 합니다. 이로 인해 컴퓨터에서 직접 제어하는 ​​측정 시간이 늘어나 측정 정확도에 영향을 미칩니다. 프로브 선택 시 목표 정확도를 고려해야 합니다.

2. 프로브 확장

프로브 연장부의 선택은 필요한 측정 유형, 측정 정확도, 사용되는 프로브의 품질 및 프로브 연결부의 강성에 따라 달라집니다. 프로브 연장부는 프로브와 트리거 끝 사이에 위치합니다.

3. 프로브 확장 선택

스타일러스 확장 및 어댑터를 사용하면 프로브가 접근하기 어려운 위치를 감지하는 데 도움이 되는 측정이 가능합니다. 사용되는 구성 요소에는 스티어링 너클과 스타 스타일러스가 포함됩니다. 간단한 확장과 M3/M2 및 M5/M4 어댑터를 통해 프로브를 다양한 나사산 크기에 연결할 수 있습니다. 사용하는 스타일러스가 나사산 크기보다 작으면 프로브의 강성이 감소하여 정확도가 떨어질 수 있다는 점에 유의해야 합니다. 반대로 프로브 라인보다 큰 스타일러스를 사용하면 잘못된 트리거가 발생할 수 있습니다.

4. 스타일러스 선택

프로브 선택 시에는 주로 두 가지 사항을 고려해야 합니다. 첫째, 접촉 요건을 충족해야 하고, 둘째, 접촉 지점에서 공작물의 모든 지점 측정이 방해받지 않고 반복 가능해야 합니다.

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