CMM TRIGGER UG SCANNING PROBE

Manwal nga Probe

• Gipauswag nga kapabilidad sa inspeksyon gikan sa mapasibo nga oryentasyon sa probe nga adunay 168 nga masubli nga mga posisyon sa indeks nga gibutang sa 15° nga pag-uswag

• Ang balik-balik nga pag-ilis sa TP20 stylus module sa matag pre-qualified nga posisyon nga dili na kinahanglan nga mo-re-qualification makapausbaw pag-ayo sa produktibidad.

• Pagkaangay sa TP20, nga naghatag og lain-laing mga opsyon sa puwersa ug gitas-on aron ma-optimize ang performance sa makina ug ang kapabilidad sa pag-access.

• Ang dali basahon nga mga sukdanan nagtugot sa paspas nga pag-usab sa oryentasyon.

Mga Sampol sa Sakyanan

• Kinatibuk-ang paglihok sa anggulo

• Palibot sa A axis（Horizontal axis）: Sakup: 0°～105° Min.step: 7.5°

• Palibot sa B axis（Bertikal nga axis）: Sakup: ±180° Min. nga lakang: 7.5°

• Kinatibuk-ang gidaghanon sa mga posisyon: 720

• Pinakataas nga output torque: 0.45Nm

• Pinakataas nga gitugot nga gitas-on sa probe extension: 300 mm

• Timbang: 645g

• Autojoint mount, balik-balik nga probe positioning

• Paspas nga awtomatikong pag-ilis sa probe pinaagi sa ACR1 o ACR3

• Bug-os nga kapasidad sa multi-wire (gidisenyo sa M sa PH10M)

• 720 ka balik-balik nga posisyon sa 7.5° nga pag-usbaw

• Torque nga makahimo sa pag-alsa sa 300mm (11.81 in) nga extension bar

• Haom para sa lain-laing klase sa CMM nga naggamit og shank o quill mounting

• Komunikasyon sa I++ DME, halapad nga kapilian sa software sa metrolohiya.

• Walay kinahanglanon nga usbon ang kasamtangang mga programa sa kadaghanang mga kaso

• Nagtugot sa paggamit pag-usab sa kasamtangang kagamitan.

• Mga anggulo sa pagtuyok: A axis -115°～115°; B axis ∞

• Ang pinakakomplikado ug labing magamit nga sistema sa pag-scan sa probe sa kalibutan

• Usa ka scanning probe, ug usa ka touch trigger probe gamit ang TP20 stylus modules.

• Ang paspas ug masubli nga pagbayloay tali sa mga modular kaayo nga elemento sa sistema naghatag sa labing episyente nga solusyon nga mohaom sa buluhaton sa pagsukod

• Maayo kaayong katukma sa pag-scan sa tibuok range sa stylus nga 20~200mm (0.78~7.87 in)

• Ang teknolohiya sa isolation optical metrology naghatag og walay kaparis nga performance sa pagsukod.

• Ang probe mahimong ikabit sa usa ka articulating head, nga nagtugot sa pag-access sa daghang mga bahin nga adunay mas gamay nga estilo.

• Paspas nga pagsukod

• Ang sistema adunay taas nga katukma

• Kusog nga pagka-flexible

• Pag-inat sa ehe hangtod sa 800 mm gikan sa sentro sa pagtuyok sa base

• Kaarang sa pagbayloay og multi-type sensor probe ug stylus

• Matangtang nga sistema sa probe nga adunay barato nga exchange frame para sa dugang nga pagka-flexible sa sistema